7-Taux de défaillance λ , et R(t) .

Le taux de défaillance instantané, ʎ (t), est une des caractéristiques de la fiabilité. La valeur ʎ(t)dt représente la probabilité conditionnelle d'avoir une défaillance dans l'intervalle de temps ] t, t+dt ], sachant qu'il n'y a pas eu de défaillance dans l'intervalle de temps [0; t].
Taux de défaillance pour des composants électroniques
L’expérience a montré que pour des composants électroniques la courbe, représentant le taux de défaillance en fonction du temps t, a la même allure que la courbe en baignoire figure I.3. Elle est donc composée de trois phases :
(1) Phase 1
La première phase définit la période de jeunesse, caractérisée par une décroissance rapide du taux de défaillance. Pour un composant électronique cette décroissance s’explique par l’élimination progressive de défauts dus aux processus de conception ou de fabrication mal maîtrisé ou à un lot de composants mauvais. Cette période peut être minimisée pour les
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composants vendus aujourd’hui. En effet, les fabricants de composants électroniques se sont engagés à vérifier la qualité de leurs produits en sortie de fabrication.
(2) Phase 2
La deuxième phase définit la période de vie utile généralement très longue. Le taux de défaillance est approximativement constant. Le choix de la loi exponentielle, dont la propriété principale est d’être sans mémoire, est tout à fait satisfaisant. Les pannes sont dites aléatoires, Leur apparition n’est pas liée à l’âge du composant mais à d’autres mécanismes d’endommagement. Les calculs prévisionnels de fiabilité se font presque souvent dans cette Période de vie utile.
(3) Phase 3
La dernière phase est la période de vieillissement, elle est caractérisée par une augmentation progressive du taux de défaillance avec l’âge du dispositif. Ceci est expliqué par des phénomènes de vieillissement tels que l’usure, l’érosion, etc. Cette période est très nettement au-delà de la durée de vie réelle d’un composant électronique. Parfois, on réalise des tests de vieillissement accélérés pour révéler les différents modes de défaillance des composants.

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