Microscopio Electrónico de Barrido
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Resumen o introducción del curso:
El microscopio electrónico de barrido es un instrumento que se utiliza para observar muestras sólidas, haciendo incidir un haz de electrones focalizado en un área rectangular muy estrecha (1m2).
Los electrones incidentes interaccionan con los átomos de la muestra, produciendo señales que contiene información sobre la topografía de la superficie de la muestra, sobre la composición química y otras propiedades de la superficie.
El microscopio electrónico JEOL IT 300, permite la observación y estudio de muestras sólidas mediante la producción de imágenes de alta resolución de la topografía superficial de una muestra. El tamaño de la cámara posibilita el análisis de muestras de hasta 300 mm de diámetro y 80 mm de altura.
Cuenta con un sistema de presión variable para el análisis de muestras no conductoras, sin necesidad de recubrirlas con un material conductor. Está dotado con un detector de electrones secundarios, un detector de electrones retrodispersados y un detector de rayos X para microanálisis y mapeo de elementos químicos.
Además, está equipado con un sistema de criotransferencia de la marca GATAN, modelo Alto 1000 que hace posible el estudio morfológico y composicional de materiales sólidos y muestras biológicas en función de la temperatura, obteniendo imágenes in situ, desde temperatura ambiente hasta cerca de la temperatura del nitrógeno líquido.
Objetivo general del curso
Conocer qué es y para qué sirve un microscopio electrónico de barrido
Bibliografía y/o Cibergrafía:
Goldstein, J. I., Newbury, D. E., Michael, J. R., Ritchie, N. W.M. Scott, H. J. And Joy, D. C. (2017) Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis. Elsevier.
Ipohorski, M. y Bozzano, P. B. (2013) Microscopia electrónica de barrido en la caracterización de materiales. Ciencia e Investigación, 63 (3) 43-53.
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Resumen o introducción del curso:
El microscopio electrónico de barrido es un instrumento que se utiliza para observar muestras sólidas, haciendo incidir un haz de electrones focalizado en un área rectangular muy estrecha (1m2).
Los electrones incidentes interaccionan con los átomos de la muestra, produciendo señales que contiene información sobre la topografía de la superficie de la muestra, sobre la composición química y otras propiedades de la superficie.
El microscopio electrónico JEOL IT 300, permite la observación y estudio de muestras sólidas mediante la producción de imágenes de alta resolución de la topografía superficial de una muestra. El tamaño de la cámara posibilita el análisis de muestras de hasta 300 mm de diámetro y 80 mm de altura.
Cuenta con un sistema de presión variable para el análisis de muestras no conductoras, sin necesidad de recubrirlas con un material conductor. Está dotado con un detector de electrones secundarios, un detector de electrones retrodispersados y un detector de rayos X para microanálisis y mapeo de elementos químicos.
Además, está equipado con un sistema de criotransferencia de la marca GATAN, modelo Alto 1000 que hace posible el estudio morfológico y composicional de materiales sólidos y muestras biológicas en función de la temperatura, obteniendo imágenes in situ, desde temperatura ambiente hasta cerca de la temperatura del nitrógeno líquido.
Objetivo general del curso
Conocer qué es y para qué sirve un microscopio electrónico de barrido
Bibliografía y/o Cibergrafía:
Goldstein, J. I., Newbury, D. E., Michael, J. R., Ritchie, N. W.M. Scott, H. J. And Joy, D. C. (2017) Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis. Elsevier.
Ipohorski, M. y Bozzano, P. B. (2013) Microscopia electrónica de barrido en la caracterización de materiales. Ciencia e Investigación, 63 (3) 43-53.
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