Загрузка страницы

Vertical Notch Detection Demonstration Using TFM and the OmniScan™ X3 Flaw Detector

Presenter: Liu Pei, NDT/ANI Technical Manager
Location: China

Watch this Evident Around the World tutorial for a demonstration of how to represent a thru-wall notch using multiple TFM wave sets. Liu Pei performs the demonstration on the OmniScan™ X3 series flaw detector with a phased array probe and wedge using 4 different TFM beam paths, also known as wave sets.

Get more details about the OmniScan X3 series at: www.olympus-ims.com/phasedarray/omniscan-x3/

Learn more from Evident’s global team at: https://bit.ly/2X7CxBr
FIND and FOLLOW Evident Industrial on:
Facebook ► www.facebook.com/EvidentIndustrial
Twitter ► https://twitter.com/Evident_Ind
LinkedIn ► https://www.linkedin.com/company/evident-industrial/
Instagram ► https://www.instagram.com/evident_ind/

Видео Vertical Notch Detection Demonstration Using TFM and the OmniScan™ X3 Flaw Detector канала EVIDENT Industrial
Показать
Комментарии отсутствуют
Введите заголовок:

Введите адрес ссылки:

Введите адрес видео с YouTube:

Зарегистрируйтесь или войдите с
Информация о видео
2 декабря 2022 г. 23:41:51
00:02:05
Яндекс.Метрика